點(diǎn)云分析中的最高性能
Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點(diǎn)云。
Metrolog X4 集成了高效光學(xué)測(cè)量功能所需的最新技術(shù),可確保無論使用哪種設(shè)備都能獲得最佳的結(jié)果。
使用CAD(彩圖分布)進(jìn)行云比較。
元素提取和自動(dòng)GD&T。
直觀的間隙和面差。
測(cè)量并補(bǔ)償材料厚度。
根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量(面積計(jì)算)。
Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點(diǎn)云。
Metrolog X4 集成了高效光學(xué)測(cè)量功能所需的最新技術(shù),可確保無論使用哪種設(shè)備都能獲得最佳的結(jié)果。
使用CAD(彩圖分布)進(jìn)行云比較。
元素提取和自動(dòng)GD&T。
直觀的間隙和面差。
測(cè)量并補(bǔ)償材料厚度。
根據(jù)表面積估算零件質(zhì)量(面積計(jì)算)。
可以根據(jù)操作員的習(xí)慣、設(shè)備類型和測(cè)量方法完全自定義用戶界面。
全新的手動(dòng)采點(diǎn)助手。
采集過程中自動(dòng)查看方向。
多個(gè)信息窗口(位置和結(jié)果)。
隨時(shí)可切換的19種語言系統(tǒng)。
Metrolog X4 具有新的幾何和尺寸公差處理引擎,可在既定時(shí)間內(nèi)處理最復(fù)雜的情況。
簡(jiǎn)化了幾何公差定義。
“專家”級(jí)系統(tǒng),確保了正確的評(píng)估方法和結(jié)果。
全面支持符合給定標(biāo)準(zhǔn)的公差評(píng)估。
支持ANSI和ISO標(biāo)準(zhǔn)。
檢測(cè)結(jié)果得到PTB和NIST組織的認(rèn)證和認(rèn)可。
PolyWorks | Inspector以功能強(qiáng)大且穩(wěn)定的直接硬件接口而聞名,它提供—套廣泛的指導(dǎo)技術(shù),全球最大的工業(yè)制造企業(yè)相信它能夠?yàn)楸銛y式測(cè)量設(shè)備提供高效、 精確和可重復(fù)的測(cè)量流程。